FIS4-UV紫外四波干涉传感器
FIS4-UV紫外四波干涉传感器

FIS4-UV紫外四波干涉传感器

半导体产业

适用于激光光束波前检测、光学系统像差测量、光学系统校准、微观刻蚀形貌测量、自适应光学光路、超表面波前测量、平面(晶圆)面形测量、光学球面面形测量等

190~400nm 工作波长
10nm RMS 通光孔径
512*512 阶数m
半导体产业 产品型号

3-03

FIS4-UV紫外四波干涉传感器——应用案例

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